Macchina per l'orientamento di monocristalli
La macchina per l'orientamento di monocristalli a raggi X DX-100 è uno strumento di precisione ad alta tecnologia che integra componenti ottici, meccanici ed elettrici, in grado di determinare rapidamente il piano cristallino di cristalli naturali e artificiali. Può essere utilizzata con diverse apparecchiature di taglio, molatura e altre lavorazioni ed è uno strumento indispensabile per la lavorazione di precisione e la produzione di componenti in cristallo. La macchina per l'orientamento di monocristalli a raggi X utilizza il principio della diffrazione dei raggi X per orientare cristalli, silicio, germanio, niobato di litio, tantalato di litio, vanadato di ittrio, cristalli laser, cristalli per la comunicazione in fibra ottica e altri materiali monocristallini. La macchina è semplice da utilizzare ed è un'apparecchiatura ideale per una varietà di materiali monocristallini presso istituti di ricerca scientifica e fabbriche. La macchina per l'orientamento di monocristalli a raggi X DX-100 è dotata di un singolo banco di lavoro con un ampio pallet per l'orientamento di lingotti, barre e superfici terminali di wafer. È suddivisa in una parte superiore e una inferiore. È di piccole dimensioni e facile da utilizzare per le misurazioni su tavolo, il che consente di misurare l'orientamento dei cristalli monocristallini e di formulare una valutazione corrispondente sulla qualità dei cristalli.
- Shenyang Kejing
- Shenyang, Cina
- 10 giorni lavorativi
- 50 set
- informazione
Il DXB-S100 Strumento di orientamento a raggi X per monocristalliÈ un dispositivo meccatronico di alta precisione progettato per la determinazione rapida dei piani cristallini sia nei cristalli naturali che in quelli sintetici. Può essere utilizzato in combinazione con diverse apparecchiature di taglio, rettifica e altre lavorazioni, risultando uno strumento indispensabile per la produzione di precisione di componenti cristallini.
In base alprincipio della diffrazione dei raggi XIl DXB-S100 è in grado di orientare un'ampia gamma di materiali monocristallini, tra cui quarzo, silicio, germanio, niobato di litio, tantalato di litio, vanadato di ittrio, cristalli laser, cristalli per telecomunicazioni ottiche e altri monocristalli. Lo strumento si distingue per la semplicità d'uso e l'elevata precisione di misurazione, caratteristiche che lo rendono la scelta ideale per istituti di ricerca e aziende produttrici di cristalli.
ILDXB-S100marchi undesign a piano di lavoro singolodotato di un'ampia piastra di supporto, adatta all'orientamento di lingotti di cristallo, barre e facce terminali dei wafer. Il dispositivo è costituito damoduli superiore e inferioreCon una struttura compatta, ideale per l'utilizzo su scrivania, supporta la misurazione precisa dell'orientamento cristallino e consente di valutare la qualità cristallina del campione.
Ein Feature
1. Adottare la struttura divisaper la macchina principale e controllo elettrico.
2. PiccoloIndimensioni e luceInpeso
Specifiche tecniche
| Articolo | Descrizione |
|---|---|
| Nome del prodotto | Apparecchio a raggi X DXB-S100Macchina per l'orientamento di monocristalli |
| Modello | DXB-S100 |
| Struttura dell'apparecchiatura | Il sistema di orientamento del cristallo a raggi X DXB-S100 è costituito da ununità superioree ununità inferiore. •Unità superiore (unità principale):Progettato per l'installazione su scrivania. Viene utilizzato per il montaggio di campioni e per le misurazioni dell'orientamento dei cristalli. Dimensioni:695 (L) × 600 (P) × 470 (A) mm. •Unità inferiore (armadio elettrico):Posizionato sul pavimento vicino all'unità principale. Ospita i principali componenti elettrici. Dimensioni:650 (L) × 460 (P) × 470 (A) mm. |
| Tavolo da lavoro | • Design a piano di lavoro singolo dotato di un'ampia piattaforma per campioni, adatta all'orientamento di lingotti di cristallo, barre di cristallo e superfici terminali dei wafer. |
| Precisione | • Precisione della misurazione:±15 secondi d'arco• Risoluzione di lettura:1 secondo d'arco(misurato utilizzando il piano 10ī1 del campione standard di quarzo fornito dal produttore). |
| Specifiche principali | 1. Configurazione dello strumento · Il sistema è costituito da una sezione meccanica e da una sezione elettrica. · Sezione meccanica:Telaio della macchina, alloggiamento del tubo a raggi X e vari accessori meccanici. · Sezione elettrica:Stabilizzatore di tensione, regolatore, trasformatore ad alta tensione, amplificatore, contatore, motore raffreddato ad aria, tubo a raggi X e strumenti indicatori. 2. Specifiche tecnicheGeneratore di raggi X: • Tubo a raggi X: bersaglio in rame, raffreddamento a ventola, anodo messo a terra. • Tensione del tubo:30 kVp(funzionamento a piena tensione). • Corrente del tubo:0–1 mAregolabile in modo continuo. • Alimentazione elettrica:Corrente alternata monofase 220 V, 50 Hz. • Consumo energetico totale:≤ 0,8 kW. • Intervallo di misurazione angolare: – 2i:da 0° a +100° – io:da 0° a +50° |
Opzioni della fase di campionamento
| Articolo | Stile 1 | Stile 2 |
|---|---|---|
| Requisiti del campione | Adatto per campioni di piccole dimensioni | Adatto a campioni di dimensioni relativamente maggiori |
| Descrizione della fase di esempio | Dotato di una piccola piattaforma di supporto e di un meccanismo di bloccaggio del campione a molla. | Dotato di una piccola piattaforma di supporto e di un sistema di adsorbimento con pompa a vuoto a membrana, è adatto per la misurazione di wafer e piccoli blocchi di cristallo. Il sistema include anche un distanziatore metallico per la misurazione di blocchi di cristallo di dimensioni maggiori. |
| Immagine | ![]() | ![]() |
| Osservazioni | colspan=2: Il sistema presenta un design a piano di lavoro singolo; è possibile selezionare una sola opzione per la fase di campionamento. | |
Logistica


